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探针模组的组成结构

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探针模组的组成结构

较为复杂,由弹簧、针头、针管、针尾构成,表面覆盖镀金,但是生产中镀金厚度很难控制,成本相对来说较高,制作工艺也比较复杂。在测试中,探针模组有可能会出现卡pin、断针的情况,不利于连接的稳定性。

 

探针模组使用寿命

 

弹片微针模组具有高寿命的特点,经过测试,它的平均使用寿命在20w次以上,在操作、环境、保养都非常好的情况下,能达到50万次,具备良好的性能,特别是在高频率测试中优势明显。弹片微针模组的头部有自清洁设计,免维护能保证测试的长期稳定性。

 

探针模组的使用寿命经过测试是在5w次左右,在测试环境较差的情况下,若有灰尘等杂质进入了探针内部,就会造成弹簧损坏,由于探针本身没有清洁能力,所以必须要更换探针。如此对企业来说不但会增加成本,还会拖慢测试进度,影响测试效率。

 

探针模组性能

 

1. 在大电流测试中,弹片微针模组一向是以能通过高达50A的电流被称为“大电流弹片微针模组”,传导过程中,电流流通于同一材料体内,电流传输稳定,过流能力强大。

 

探针模组在大电流测试中基本没有优势,能通过的额定电流仅为1A,由于组件较多,电流还有可能会在不同部位衰减,造成测试的不稳定。

 

2. 在小pitch领域,弹片微针模组的可取值范围较大,通常能保持在0.15mm-0.4mm之间,有着稳定可靠地解决方案。探针模组可以应对的pitch值在0.3mm-0.4mm之间,在小pitch中寿命和稳定性都表现较差。由此可以看出,弹片微针模组在小pitch里面的表现要远远由于探针模组。

 

3. 针对BTB连接器公母座测试,弹片微针模组分别用不同的头型应对BTB公母座,锯齿型接触BTB公座,尖头型接触BTB母座,具有更好地连接性,保证测试的稳定。测试良率高达99.8%(有些产品上可以达到100%)且不会对连接器产生任何扎痕。

 

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