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芯片测试座的基础知识详解

来源:飞时通

发布时间:2023-11-07

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一、芯片测试座的种类

芯片测试座按照不同的标准可以分为不同的类型。按照测试方式,可以分为功能测试座和性能测试座;按照结构,可以分为针床式测试座和探针式测试座;按照材质,可以分为塑料测试座和金属测试座。

二、芯片测试座的结构

芯片测试座的结构通常由以下几个部分组成:

1. 基座:用于支撑芯片,一般由高导热系数的材料制成。
2. 定位器:用于确定芯片的位置,保证测试的精度。
3. 测试探针:用于连接芯片的引脚和测试仪器,以进行电信号的传输。
4. 固定装置:用于固定芯片,防止测试过程中芯片发生移动。
5. 连接线:用于连接测试探针和测试仪器,以传输电信号。

三、芯片测试座的工作原理

芯片测试座的工作原理是通过测试探针将芯片的引脚连接到测试仪器上,然后根据预设的测试程序,对芯片进行功能和性能的测试。在测试过程中,测试人员可以通过观察测试数据和波形,来判断芯片的性能和可靠性是否达到预设的标准。

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