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从使用寿命分析大电流弹片微针模组与探针模组的优劣

来源:飞时通

发布时间:2021-08-18

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大电流弹片微针模组,与传统的探针模组一样都是应用于电子测试中测试PCBA的一种测试连接电子元件。在测试治具中,微针模组和探针模组作为一种媒介,能起到导通电流和传送信号的作用,多用于3C锂电池、手机LCD、OLED屏幕、摄像头、可穿戴智能设备等电子产品的测试中。

作为电子产品测试的桥梁,微针模组和探针模组的使用寿命是至关重要的,这关乎着产品的测试效率和测试进度,以及企业对生产成本的调度。经过测试,大电流弹片微针模组的平均使用寿命在20w次以上,但是在操作、环境以及保养都非常好的情况下能达到50w次。而传统的探针模组的使用寿命在5w次左右。影响测试模组使用寿命的相关因素包含了测试环境、结构和应对方法。


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