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探针模组的组成结构

较为复杂，由弹簧、针头、针管、针尾构成，表面覆盖镀金，但是生产中镀金厚度很难控制，成本相对来说较高，制作工艺也比较复杂。在测试中，探针模组有可能会出现卡pin、断针的情况，不利于连接的稳定性。

 

探针模组使用寿命

 

弹片微针模组具有高寿命的特点，经过测试，它的平均使用寿命在20w次以上，在操作、环境、保养都非常好的情况下，能达到50万次，具备良好的性能，特别是在高频率测试中优势明显。弹片微针模组的头部有自清洁设计，免维护能保证测试的长期稳定性。

 

探针模组的使用寿命经过测试是在5w次左右，在测试环境较差的情况下，若有灰尘等杂质进入了探针内部，就会造成弹簧损坏，由于探针本身没有清洁能力，所以必须要更换探针。如此对企业来说不但会增加成本，还会拖慢测试进度，影响测试效率。

 

探针模组性能

 

1. 在大电流测试中，弹片微针模组一向是以能通过高达50A的电流被称为“大电流弹片微针模组”，传导过程中，电流流通于同一材料体内，电流传输稳定，过流能力强大。

 

探针模组在大电流测试中基本没有优势，能通过的额定电流仅为1A，由于组件较多，电流还有可能会在不同部位衰减，造成测试的不稳定。

 

2. 在小pitch领域，弹片微针模组的可取值范围较大，通常能保持在0.15mm-0.4mm之间，有着稳定可靠地解决方案。探针模组可以应对的pitch值在0.3mm-0.4mm之间，在小pitch中寿命和稳定性都表现较差。由此可以看出，弹片微针模组在小pitch里面的表现要远远由于探针模组。

 

3. 针对BTB连接器公母座测试，弹片微针模组分别用不同的头型应对BTB公母座，锯齿型接触BTB公座，尖头型接触BTB母座，具有更好地连接性，保证测试的稳定。测试良率高达99.8%（有些产品上可以达到100%）且不会对连接器产生任何扎痕。